SuperViewW光學(xué)三維表面粗糙度輪廓儀測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

SJ5800國產(chǎn)高精度粗糙度輪廓形狀測(cè)量?jī)x可以對(duì)零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進(jìn)行檢測(cè)，是大曲面測(cè)量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。

SuperViewW非接觸式光學(xué)3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理，能以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SJ5800國產(chǎn)接觸式輪廓儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，通過軟件提供的分析工具可對(duì)輪廓及微觀輪廓進(jìn)行各種粗糙度參數(shù)、輪廓參數(shù)分析。

SuperViewW國產(chǎn)白光干涉光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。復(fù)合型EPSI重建算法，解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。

SJ5800高精度形狀曲線粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，分辨率高達(dá)到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。廣泛應(yīng)用于精密機(jī)械加工、汽車、軸承、機(jī)床、模具、精密五金等行業(yè).