CH系列光學影像坐標測量儀又名影像測量儀、測量影像儀、影像式精密測繪儀，光學測量儀，三維測量，2.5D測量，是依托于計算機屏幕測量技術和強大的空間幾何運算軟件而存在的精密測量儀器。具有高穩(wěn)定性、高精度、高效率等特點，能夠滿足現代工業(yè)大批量、高精度的測量需求。

優(yōu)點

a.以非接觸式的光學測量為主，接觸式測量為輔，各傳感器的快速切換，可進行全且準的測量任務；

B.效率高，非接觸式測量利用光學測量技術無需接觸產品表面，可實現效率高的測量；

c.通用性強，光學測量針對接觸式測量無法實現接觸的特征，可通過光學放大及光強調節(jié)進行測量，如微型特征，深槽內特征及接觸易變形材料或薄件等。

CH系列光學影像坐標測量儀采用大理石主體機臺和精密伺服控制系統，實現低分貝級運動測量；充分發(fā)揮光學電動變倍鏡頭的高精度優(yōu)勢，將傳統影像測量與激光測量技術相結合，可以實現2.5D和3D的復合測量：實現各種復雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差等精密測量。

測量功能

1.量測工具：掃描提取邊緣點、多段提取邊緣點、圓形提取邊緣點、橢圓提取、框選提取輪廓線、聚焦點、最近點等。

2.可測幾何量： 點、線、圓（圓心坐標、半徑、直徑）、圓弧、中心、角度、距、線寬、孔位、孔徑、孔數、孔到孔的距離、孔到邊的距離、弧線中心到孔的距離、弧線中心到邊的距離、弧線高點到弧線高點的距離、交叉點到交叉點的距離等。

3.構建特征：交點、中心點、極值點、端點、兩點連線、平行線、垂線、切線、平分線、中心線、線段融合、半徑畫圓、三線內切圓、兩線半徑內切圓等。

4.形位公差：直線度、圓度、輪廓度、位置度、平行度、對稱度、垂直度、同心度、平行度等形位公差評定。

5.坐標系：儀器坐標系、點線、兩點 X、兩線等工件坐標系；圖像配準坐標系；可平移、旋轉、手工調整坐標系。

6.快速工具：R角、水平節(jié)距、圓周節(jié)距、篩網、槽孔、輪廓比對、彈簧、O型圈等特殊工具快速測量。

7.支持公差批量設置、比例等級劃分、顏色自定義管理。

CH系列影像儀測量儀的核心部件，都是經過精密的組裝調校，測試，才能達到精度要求，實現可靠運行，是穩(wěn)定可靠測量設備。